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Features:
￭ Thermal analysis of tiny 8 μm chip-level structures on electronic components
￭ Exchangeable, focusable optics for most flexible use of the c amera
￭ Microscope stand included for hands-free simultaneous operation / testing
￭ Frame rates up to 125 Hz allow inspection of fast processes (like pulsed laser diodes)
￭ Radiometric video or tiff recording with +/-2 °C measurement accuracy
￭ License-free analysis software and complete SDK included




 
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