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紅外線熱影像儀

Optris PI 08M 固定式紅外線熱影像儀適用於雷射加工溫度測量


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在 800nm 的光譜範圍內新開發的紅外線熱像儀，optris® PI 08M 可減小因未知變化的輻射率而產生測量的誤差。由於光譜範圍以及從575°C 到1900°C（1067°F到3452°F）的溫度測量範圍，PI 08M 幾乎適用於幾乎所有NIR和CO2 雷射加工應用。

1 kHz 的幀速率以及高光學解析度可實現對相應應用的最佳適應。


主要參數

￭ 800 nm 內的特殊光譜範圍，是幾乎所有NIR和CO2雷射加工應用的理想選擇
￭ 寬測量範圍：575 °C 至 1900 °C，無子量程
￭ 高動態CMOS探測器像素高達764 x 480
￭ 高達1kHz幀頻適用於快速過程
￭ 實時類比輸出，回應時間為1 ms
￭ 免費的分析軟體和完整的SDK軟體開發包
￭ 含軟體和 I/O 介面
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